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工具显微镜的数显技术改造
万能工具显微镜可以测量零件的长度、角度、螺纹等诸多几何量参数,是长度计量检测中使用*多的一种测试仪器,因此广泛应用于机械加工业的各类企业。但随着现代工业的发展以及科技的进步,传统的老式万工显已难以满足要求,因此很有必要对其进行工艺改造。本文以某万能工具显微镜为例,介绍对万能工具显微镜的数显工艺改造。
数显系统的改型
森乾量仪根据用户多年在设备中应用光栅、磁栅以及球栅数显系统的经验,比较不同数显系统的特点并通过性能和精度检测,选择 WTA1型高精度光栅数显系统。该系统具有制造精度高、稳定性好、可靠性好以及装置简单、调试方便、对环境要求不高等优点,适合用于万工显的改造。
根据 该万工显的测量范围为纵坐标 200mm 、横坐标 100mm ,选用 WTA1-250型测量范围 250mm 和测量范围 100mm 两根光栅;选用配套的 万濠数显表WE6800-2 型两轴数显表(*小分辨率为 0.2 μ m ),它具有传感器的接口,可与 WTA1型原装计量传感器进行配套。
数显系统的装置
由于加装数显系统必须在不影响仪器原有光学系统的前提下进行,所以采用该装置方案:将 250mm 的长磁尺装置在纵向导轨的右侧(左侧是仪器原有的玻璃刻度尺),因装置位置所限右侧须加装一个支承块,用来固定光栅的右端; 100mm 的光栅装置在横向导轨的侧面。按照说明书上的装置工艺条件,分别将两个尺子装置基面调整到与纵、横向导轨运动方向(水平方向和垂直方向)平行,其平行度〈 0.1mm (通常装置时都能方便地调整到 0.05mm 以内)。
三、数显系统的调试
纵坐标的调试:取下一起纵向导轨上的玻璃工作台,将一块 200mm 的 3 等量块两端分别研上 10mm 的量块附件,将其装置在纵向导轨刮研基面,使其与光栅尺装置在同一直线上,以减少阿贝差别。再用装置在仪器横向滑架上的计量传感器测头与量块的一端接触,此时数显表开始计数,然后移动纵向导轨使传感器测头与量块的另一端接触,在接触的瞬间数显表停止计数并保持数据。数显表的显示值与量块的实际尺寸之差就是数显系统的差值。该差值若小于 3 μ m 则不必修正,若大于 3 μ m 时可根据差值的大小通过数显表的差别补偿系统进行线性补偿,可使差别小于规定的数值甚至接近于零。